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  • 正置金相顯微鏡BX53M
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2021/7/20 22:51:06

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產品簡介

正置金相顯微鏡BX53M產品介紹:*系統(tǒng)化模塊化的設計能夠實現(xiàn)多種配置,以滿足用戶的各種要求

正置金相顯微鏡BX53M詳細信息

    正置金相顯微鏡BX53M產品介紹:

    *系統(tǒng)化
    模塊化的設計能夠實現(xiàn)多種配置,以滿足用戶的各種要求。

    LED照明
    BX53M為反射光和透射光照明提供了高強度的白光LED光源。無論強度是多少,LED都保持著一致的色溫。LED提供了高效而長壽命的照明,是材料學檢測應用的理想工具。



    • BX53M反射和反射/透射觀察機架
    BX3M系列有兩種顯微鏡機架,一種僅用于反射光,一種用于反射光和透射光組合。兩種機架都可配置手動、編碼或電動部件,并且都配備有ESD防靜電功能。

    BX53M同時配備了一個適配器,以抬升照明器,適應更高的樣品。



    機架組合圖號可用于反射光可用于透射光樣品高度
    BX53MRF-S 1yesno0-65 mm
    BX53MTRF-S 2yesyes0-35 mm
    BX53MRF-S + BX3M-ARMAD 1、3yesno40-105 mm
    BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD 2、3yesyes40-75 mm





    • 顯微鏡支架
    顯微鏡檢查時如果樣品不適合放在載物臺上,可以在更大的支架上或其它設備上安裝照明器和光學元件。


    • 鏡筒
    使用目鏡進行顯微鏡成像,或通過相機觀察時,請根據(jù)觀察過程中的成像 類型和操作者的觀察姿勢選擇鏡筒。


    FN類型角度類型圖像屈光度調節(jié)裝置數(shù)
    1U-BI30-222雙目固定式倒像1
    2U-TBI-322雙目傾斜式倒像1
    3U-TR30-222三目固定式倒像1
    U-TR30IR22IR用三目固定式倒像2
    U-ETR-422三目固定式正像2
    U-TTR-222三目傾斜式倒像2
    U-SWTR-326.5三目固定式倒像2
    U-SWETTR-526.5三目傾斜式正像2
    U-TLU22單口鏡筒———
    U-TLUIR22IR用單口鏡筒———



    • 照明器
    照明器根據(jù)選擇的觀察方法將光線投射到樣品上。軟件與編碼照明器配套 使用,可以讀出分光鏡組件的位置,并自動識別觀察方法。



    編碼功能光源BFDFDICPOLIRFL混合AAS/FS
    1BX3M-RLAS-S3個固定式分光鏡組件位 置LED-內置yesyesyesyes yesyes
    2BX3M-URAS-S4個可換裝的分光鏡組件位置LEDyesyesyesyes yesyes
    鹵素燈yesyesyesyesyes yesyes
    汞燈/光導yesyesyesyes yesyesyes
    3BX3M-RLA-S LEDyesyesyesyes yesyes
    鹵素燈yesyesyesyesyes yesyes
    4BX3M-KMA-S LED-內置
    yes yesyes yes
    5BX3-ARM透射光觀察專用鏡臂
    6U-KMAS LEDyes yesyes yes
    鹵素燈yes yesyesyes yes

    • 光源









    • 物鏡轉換器
    物鏡和滑塊的附件。選擇所需的物鏡數(shù)量和類型;以及是否帶滑塊附件。
    • 滑塊
    選擇DIC滑塊來補充常規(guī)的明場觀察。采用DIC滑塊后,在獲取有關樣品 的形貌信息時,可以選擇高對比度型或高分辨率型。MIX組合式照明使用 起來非常靈活,它在暗場光路中提供了分區(qū)的LED光源。

    • BX53M IR觀察
    IR物鏡可用于透過硅材料成像,進行半導體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外(IR)物鏡,提供了從可見光波長到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡,配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡,校正由樣品厚度導致的像差。使用一個物鏡即可獲取清晰的圖像。

    物鏡放大倍率NA(數(shù)值孔徑)WD(mm)蓋玻片厚度(mm)硅厚度(mm)分辨率(um)(孔徑光闌全開)
    LMPLN-IR5X0.1230~0.17_6.71
    10X0.3180~0.17_2.24
    LCPLN-IR
    (適合FN22,不適合FN26.5)
    20X0.458.30~1.20~1.21.49(使用1100mm波長)
    50X0.654.50~1.20~1.21.03(使用1100mm波長)
    100X0.851.20~0.070~1.00.79(使用1100mm波長)
    無校正環(huán)物鏡觀察效果有校正環(huán)物鏡觀察效果

    • BX53M偏光觀察
    詳見BX53P偏光顯微鏡介紹。
    • BXFM系統(tǒng)
    BXFM適合于特殊應用,或整合進其它儀器中。模塊化結構,再加上各種特殊的小型照明器和固定裝置,使其可以直接用于*的環(huán)境和配置。


    正置金相顯微鏡BX53M基本參數(shù):


    正置金相顯微鏡BX53M產品應用:

    反射光顯微鏡檢查涵蓋的應用和行業(yè)非常廣泛,下面僅選擇了使用不同觀察方法效果的部分示例。

    暗場觀察表面貼裝基板:DF
    暗場能夠觀察標本上的散射或衍射光。任何不平整的部位都會反射這種光,而平整的部位則顯得很暗,因此缺陷部位就會清晰地顯示出來。用戶甚至可以識別出極細微的劃痕,或小到8nm級別的缺陷 – 比光學顯微鏡的分辨能力還要小。
    因此,暗場是檢測標本上細微劃痕或缺陷,以及鏡面標本(包括晶圓)的理想工具。
    微分干涉觀察球墨鑄鐵檢測:DIC
    微分干涉是一種顯微鏡觀察技術,這種技術把明場觀察所不能檢測到的標本高度差,變?yōu)楦〉駹罨蛉S圖像,改善了圖像襯度。該技術使用了偏光,并有三種專門定制設計的棱鏡可以選擇。它是檢查具有極細微高度差的標本的理想工具,包括金相組織、礦石、磁頭、硬盤介質和拋光晶圓表面。

    熒光觀察半導體晶圓上的顆粒異物:FL
    該技術用于通過專用濾色片激發(fā)塊照明,使標本能夠發(fā)出熒光(發(fā)出不同波長的光),特定的激發(fā)塊可用于特定的應用。它適合于檢查半導體晶圓上的異物、光阻殘留物,以及通過熒光染料檢測裂縫。可以選配復消色差集光鏡系統(tǒng)的燈箱,以補償從可見光到近紅外光的色差。
    紅外光觀察電極切片:IR
    IR觀察是非破壞性地檢查可以透過紅外光的硅材料或玻璃材料構成的電子元器件內部的方法。

    透射光觀察LCD彩色濾光片:TLBF+HDR
    對于透明樣品,比如LCD、塑料和玻璃材料,可以使用各種聚光鏡進行透射光觀察。組建一個光學系統(tǒng),實現(xiàn)透射光明場和偏光進行樣品檢查非常方便。

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