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德Optosol-K3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市藍星宇電子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2021/7/18 20:23:00
  • 訪問次數(shù)525
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深圳市藍星宇電子科技有限公司,經(jīng)過十多年的紫外光專業(yè)技術(shù)沉淀,可以根據(jù)客戶特殊要求提供定制化服務(wù),研發(fā)設(shè)計組裝:紫外臭氧清洗機(UV清洗機),準(zhǔn)分子清洗機,等離子清洗機/去膠機等科研以及生產(chǎn)設(shè)備,擁有自主品牌及注冊商標(biāo)。 同時我們代理歐美日多家高科技設(shè)備廠家高性價比產(chǎn)品, 始終堅持創(chuàng)新, 技術(shù), 服務(wù), 誠信的企業(yè)文化,為廣大中國及海外客戶提供的儀器設(shè)備和材料的整體解決方案。 應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué), 生命科學(xué)/生物醫(yī)療等領(lǐng)域的研發(fā)和生產(chǎn), 客戶群體例如高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機構(gòu)等。 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué) 產(chǎn)品主要有: 德國ParcanNano(Nano analytik)針尖光刻機,電子束光刻機, 激光直寫光刻機,紫外光刻機,微納3D打印機,德國Sentech刻蝕機/鍍膜機及原子沉積,英國HHV磁控/電子束/熱蒸發(fā)鍍膜機,微波離子沉積機MPCVD,芬蘭Picosun原子層沉積機,電子顯微鏡, 德國Bruker布魯克原子力顯微鏡/微納表征/光譜儀, 美國THERMO FISHER賽默飛光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,美國Sonix超聲波顯微鏡, 德國耐馳Netzsch熱分析儀, 德國Optosol吸收率發(fā)射率檢測儀, 日本SEN UV清洗機/UV清洗燈,美國Jelight紫外清洗機/紫外燈管,德國Diener等離子清洗機等*技術(shù)產(chǎn)品。 生命科學(xué)/生物醫(yī)療 產(chǎn)品主要有:PCR儀,核酸質(zhì)譜儀/核酸檢測儀,電子顯微鏡,紫外設(shè)備,光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,生物芯片,試劑,實驗耗材等。 并可依據(jù)客戶需求,研發(fā)定制相關(guān)產(chǎn)品。我們以高性價比的優(yōu)勢為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),為高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機構(gòu)等客戶提供儀器設(shè)備和材料。
電子顯微鏡
德Optosol-K3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德Optosol-K3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀 產(chǎn)品信息

德Optosol-K3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀:


K3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體(作為熱輻射源)和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。在上述波長范圍內(nèi),用兩個已知發(fā)射值的樣品來進行檢測信號的校準(zhǔn),這兩個樣品其中一個發(fā)射率高,如玻璃;另一個樣品的發(fā)射率低或者其發(fā)射率與待測樣品相接近。

Manual absorber centrol K3-V9



兩種類型的測量誤差只能通過小心使用儀器來避免。
首先,球體通量取決于樣品的反射率。這種效應(yīng)在一定程度上糾正了數(shù)值。 但是推薦使其次,樣品可以在測量期間可以被次級輻射加熱。次級輻射限制了測量精度。當(dāng)測量高發(fā)射率樣品或參考物時,效果更為顯著。
另外,建議將樣品與積分球體接觸的時間,只在進行必要測量的時間段。




使用吸收率檢測儀器進行高精度檢測的注意事項:
- 在運行吸收率檢測儀期間應(yīng)盡量避開交流調(diào)制的環(huán)境光線。
- 特別注意要關(guān)掉熒光燈光源。日光或其它直流人工光線不會對吸收率檢測儀的工作造成影響。
- 在使用Alphameter檢測儀和發(fā)射率檢測儀進行檢測時,應(yīng)避開空氣對流或暴露于熱源下(包括直射的太陽光線?。?。
- 在開始檢測前1小時運行發(fā)射率檢測儀。
- 在不使用吸收率檢測儀時,應(yīng)保持探頭和校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)件的清潔


測量


首先,檢測平面或圓柱體面樣品時請確保使用正確的附件。請確保發(fā)射率檢測儀有足夠的加熱時間(半小時以上)。
alphameter檢測頭可與檢測孔可以向上和向下使用。 對于小件和參考測量的測量,建議使用向上的位置。 測量結(jié)束后,藍色狀態(tài)欄中的會顯示“Ready”指示。


如果您正在測量各種非均質(zhì)樣品,請確保樣品始終處于正確的位置,此時對于測量的建議,應(yīng)該讓樣品的不同取向與積分球校準(zhǔn)后進行。
在每個樣品完成檢測后,其檢測結(jié)果會在窗口上進行顯示并儲存到IRAM.txt文件中。


建議首先輸入樣品名稱和檢測起始號。如果用戶未設(shè)置檢測起始號,檢測編號將自動遞增。檢測結(jié)果文件記錄以下數(shù)據(jù):
。日期
。時間
。樣品名稱(如用戶所輸入的名稱)
。檢測的類別(吸收率、發(fā)射率或者兩者都有)
。太陽能吸收率或發(fā)射率檢測值
。每一波長范圍內(nèi)的檢測值

所有的檢測結(jié)果將儲存到 iram.txt 文件中。不會有檢測結(jié)果丟失的現(xiàn)象發(fā)生。為快速的找到檢測數(shù)據(jù),建議將檢測數(shù)據(jù)儲存在AlphaM.txt文件中或間隔一定周期(比如每周或每月)對iram.txt文件進行重新命名?;蛘咧苯訌?fù)制這些數(shù)據(jù)到一個電子制表軟件(例如 Excel),以獲得更快的數(shù)據(jù)訪問。如果您想打印出檢測曲線,請按“Print”按鈕。
建議間隔一定時期(如1小時)重新進行一次參考檢測。目的是檢測白色參考插頭的穩(wěn)定性。測得的值如在95%到97%之間,則視為穩(wěn)定.


使用alphamter檢測儀進行檢測


在使用Alphameter檢測儀進行檢測前,必須先完成三個參考檢測:一個是理想的黑色表面物的檢測、一個是“灰色”表面物的檢測以及一個白色表面物的檢測.



為了獲得上述三個參考檢測值,步(取下管狀樣品參考后,按下Dark ref 按鈕(功能鍵F1)。之后出現(xiàn)一個信息對話窗口,提示您將參考品翻入暗室中(將黑色參考插頭(隨機附帶)放置到Alphameter檢測儀探測器的探頭孔上}。通過按下電腦上的Space鍵可進行連續(xù)檢測,然后按下回車鍵或用鼠標(biāo)點擊OK。

Manual absorber control K3 – V9 Optosol GmbH10
此處所指的暗室可以是一個空間足夠大的紙板箱,以避免環(huán)境光線進入Alphameter檢測儀探頭的積分球內(nèi)。請確保Alphameter檢測儀探頭開孔外的10cm范圍內(nèi)無任何物體。否則所測得的吸收率可能只是待測件的部分吸收率,原因或許是檢測環(huán)境沒有達到理想的黑色環(huán)境。

按下 White ref (功能鍵 F2)即可開始第二項校準(zhǔn)。同樣會出現(xiàn)一個信息對話窗口,提示您將白色參考插頭(隨機附帶)放置到Alphameter檢測儀探測器的探頭孔上。隨后的操作步驟同上。請注意,白色標(biāo)準(zhǔn)件(White Standard)指示的96%反射比為原始系數(shù),其中未考慮球體透光修正。存儲在文件iram.ini中的更正值為97.5%。白色參考檢測是重要的檢測項目,要盡可能地進行多次檢測??紤]到球體的透光率,還需進行第三種參考樣品的檢測。球壁的反射比決定了探測器接收到的輻射量或決定了所謂的球體透光率。當(dāng)樣品作為球壁的一個組成部分的情況下,球體的透光率將取決于樣品的透光率。其數(shù)字上的修正通過檢測第三個參考樣品得以完成。按下Grey ref(功能鍵F3) 按鈕即可進行灰色參考值檢測。此項檢測不經(jīng)常進行,只有在檢查球體透光率是否因球面不干凈而發(fā)生變化時進行。



參考測量的校準(zhǔn)系數(shù)存儲在IRAN.ini文件(目錄IRAM)中。當(dāng)參考測量完成時,參考按鈕(功能鍵F1-F3)從粗體變?yōu)檎!?否則將使用舊設(shè)置進行樣品測量。 我們建議在設(shè)備關(guān)閉時,時常重復(fù)參考測量。 當(dāng)進行參考測量時,參考測量的標(biāo)簽從粗體字符變?yōu)檎?。如果您認(rèn)為白色參考樣品不是理想的白色,可以在去離子水用240號砂紙對參考插頭進行清潔。

Manual absorber control K3 – V9 Optosol GmbH11
通過把平面樣品直接放置在alphameter檢測器頭的檢測孔上之后,通過按下 樣品(F4功能鍵)來進行吸收測量。對于測量波長范圍(0.38-1.55μm)的時候,完整的太陽能吸收值可以立即被計算出,存儲并顯示在屏幕上。


使用發(fā)射率檢測儀進行檢測


發(fā)射率檢測儀檢測的是黑色發(fā)光體發(fā)射出的和待測樣品反射出的輻射。 發(fā)射率檢測儀的開口式設(shè)計可以進行平板表面或圓柱形表面物體的檢測,而且平面樣品可以直接放在發(fā)射率檢測儀探測頭的探測孔上,但是這種設(shè)計使發(fā)射器對溫度的變化很敏感,因此,應(yīng)慢慢的操作發(fā)射率檢測儀,以避免空氣流動而導(dǎo)致發(fā)射器溫度變涼。同時,還要考慮高發(fā)射率樣品可能被快速加熱這一因素。被加熱樣品的輻射會對檢測產(chǎn)生干擾。因此,對高發(fā)射樣品的檢測應(yīng)盡快完成。 樣品必須具有小于70%的發(fā)射率,以確保測量的足夠的精度。

在啟動檢測儀器半小時后,等到能源和積分球處于平衡狀態(tài)之前,請先等待。 使用發(fā)射率檢測儀進行檢測要求*行兩種參考標(biāo)準(zhǔn)的檢測,一個為低發(fā)射率參考標(biāo)準(zhǔn)檢測,另一個為高發(fā)射率參考標(biāo)準(zhǔn)檢測。


平面樣品:
首先通過按下按鈕 Low e ref(F6功能鍵)對低發(fā)射率(金屬片)參考標(biāo)準(zhǔn)進行檢測,然后通過按下按鈕 High e ref (F7功能鍵)對高發(fā)射率(鍍金屬片)參考標(biāo)準(zhǔn)進行檢測。



管狀樣品:
首先通過按下按鈕 Low e ref(F6功能鍵)對低發(fā)射率(金屬部分)參考標(biāo)準(zhǔn)進行檢測,然后通過按下按鈕 High e ref (F7功能鍵)對高發(fā)射率(彎曲的金屬板)參考標(biāo)準(zhǔn)進行檢測。


按下 Sample (F9功能鍵)可以開始對樣品進行測量。在波長范圍3.9-50 (線性外推法)μm用一個加權(quán)積分和在iram.ini 文件中的普朗克黑體輻射定律熱發(fā)射率被計算出。
同樣,全部的檢測結(jié)果將儲存到IRAM.txt文件里。不會有檢測結(jié)果丟失現(xiàn)象發(fā)生。


綜合測量


建議一起進行吸收和發(fā)射測量,因為發(fā)射率也由NIR值決定。這可以通過用按鈕(F11功能鍵)測量吸收率,隨后進行發(fā)射測量(F12功能鍵)(將樣品轉(zhuǎn)移到發(fā)射裝置)之后進行。

光譜的兩個部分將被合并和顯示。


單次測量(左)和組合測量(右)之間的差異
如果選擇了組合測量,則光譜反射率的插入曲線會被顯示(右側(cè)圖)。現(xiàn)在 這個太陽能吸收率和熱發(fā)射率在波長范圍0.38-50(線性外推法)μm被計算出來,并存儲在IRAM.txt 文件里的一行中。


故障排除指南


Alphameter檢測儀的二級管不亮
請檢查串行端口的定義或檢查電子盒主開關(guān)上的保險絲。

使用Alphameter檢測儀進行檢測時,檢測值異常
請使用診斷窗口選項檢查原始數(shù)據(jù)值。進行重復(fù)檢測后某個光源仍有較大誤差時,說明該光源存在故障。

使用發(fā)射率檢測儀進行檢測時,檢測值異常
請確保紅外光源處于正常的工作狀態(tài)。

交付的物品


交付的物品包括在內(nèi)的是:
-電子控制主機
-alphameter 檢測器頭:
-alphameter 配件:
白色參考物
灰色參考物
黑色參考物
-發(fā)射率檢測儀探頭
-發(fā)射率檢測儀配件:
低發(fā)射率參考標(biāo)準(zhǔn)物(金屬)
高發(fā)射率參考標(biāo)準(zhǔn)物
-電腦連接線
-電源線
-軟件
-電腦(可選)

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