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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
EQS 是差式泵式二次離子質(zhì)譜（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析來(lái)自固體樣品的二次陰、陽(yáng)離子和中性粒子。采用的SIMS 探針，便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。
·光柵控制，增強(qiáng)深度分析能力
·所有能量范圍內(nèi)，離子行程的最小擾動(dòng)，及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器
·質(zhì)量數(shù)范圍： 300amu，500amu，1000amu
·檢測(cè)器： 離子計(jì)數(shù)探測(cè)器、正負(fù)離子探測(cè)器、107 cps
·質(zhì)量過(guò)濾器： 3F四級(jí)桿
·桿直徑： 9mm
·加熱： 250℃
·離子源： 電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲
MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)
AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)
AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)
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