冷熱沖擊測(cè)試箱廠家/溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、LED、LCD、PCB板、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),也是篩選電子元器件初期故障的得力助手。
一、冷熱沖擊測(cè)試箱廠家/溫度沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)
1、分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)*靜止,采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū),完成冷熱溫度沖擊測(cè)試;既可作冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用又可以作單獨(dú)的高溫箱或單獨(dú)的低溫箱使用;
2、可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線測(cè)試部件;
3、大型彩色LCD觸控對(duì)話式微電腦控制系統(tǒng),操作簡(jiǎn)單易懂,運(yùn)行狀態(tài)一目了然;
4、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);
5、具有RS-232或RS-485通訊接口,可連接電腦遠(yuǎn)程操控,使用便捷;
6、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇2槽或3槽之功能,并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能;
7、可在預(yù)約開(kāi)機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能;
8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù),自動(dòng)(手動(dòng))除霜;
9、采用日本*OYO彩色觸摸屏控制器人機(jī)界面友好,程序設(shè)定方便,異常及故障排除顯示功能齊全。
二、冷熱沖擊測(cè)試箱廠家/溫度沖擊試驗(yàn)箱原理及作用
高低溫沖擊箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備, 用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。
三、主要技術(shù)參數(shù)
1、溫度范圍:低溫(B:-40;C:-55;D:-65)~高溫+150℃
2、高溫箱: +60℃~200℃
3、低溫箱: 0℃~-80℃
4、溫度波動(dòng)度:±0.5℃
5、溫度均勻:±2℃;
6、升溫速率:≤5℃/min
7、降溫速率:≤5℃/min
8、預(yù)冷下限溫度:≤-80℃;
9、電源:380V±10﹪ 50Hz
四、產(chǎn)品型號(hào)及尺寸:(W×H×D)(mm)
JR-WD-50 內(nèi)箱尺寸:350×350×400 外箱尺寸:1560×1750×1440
JR-WD-80 內(nèi)箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1700×1800×1440
JR-WD-100 內(nèi)箱尺寸:600×400×400 外箱尺寸:1800×1800×1440
JR-WD-150 內(nèi)箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1800×1900×1540
JR-WD-250 內(nèi)箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1900×2000×1640
JR-WD-480 內(nèi)箱尺寸:800×800×750 外箱尺寸:2020×2250×2150
五、安全保護(hù)措施
1、工作室超溫;
2、制冷機(jī)超壓;
3、制冷機(jī)過(guò)載;
4、制冷機(jī)油壓;
5、加熱器短路、過(guò)載;
6、鼓風(fēng)電機(jī)過(guò)載;
7、系統(tǒng)漏電保護(hù);
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