詳情一、高低溫濕熱交變老化試驗箱適用范圍
該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。 該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫及其循環(huán)變化條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

詳情二、高低溫濕熱交變老化試驗箱主要技術(shù)指標
1 、溫度范圍:-70℃、-40℃、-20℃~ 100(150)℃
2 、溫度波動度: ±0.5℃ 3 、
溫度偏差: ≤2℃ 4 、
升降溫速率:0.7~1℃/min
高低溫濕熱交變老化試驗箱高溫高濕檢定箱
詳情三、關(guān)于高低溫濕熱交變老化試驗箱系列的一些相關(guān)試驗標準以及試驗方法
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備 GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法 GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法 GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
高低溫濕熱交變老化試驗箱高溫高濕檢定箱






















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