LAP-S2000采用分體式設計，適用范圍更加寬泛。性能更加穩(wěn)定、量程更大、適應各種復雜的測試環(huán)境，同時LAP-S2000進行了防塵處理。
LAP-S2000噴霧激光粒度分析儀主要性能特點：
LAP-S2000采用了分體式結構，可測試遠距離樣品， LAP-S2000采用了大平臺，即使一體式使用也能滿足0.1米到10米的距離上正常測試。
的光路設計： LAP-S2000采用了夫瑯禾費衍射原理和典型的平行光路設計，配備了大功率的半導體激光器；*的高密度探測單元，讓LAP-S2000擁有了*的小顆粒測試能力，LAP-S2000在1μm～2000μm內無縫測試。同時LAP-S2000又加入了光路自動調整裝置，方便操作的同時又延長了儀器的適用壽命。
大功率半導體激光器：LAP-S2000采用了大功率的半導體激光器，增強了儀器的分辨能力，使小顆粒也無處藏身。
光路自動校對：LAP-S2000在噴霧粒度儀中加入了自動對能，LAP-S2000加入的光路自動調整系統(tǒng)，保證了儀器測量的穩(wěn)定性、準確性。同時大量減少操作者的工作強度。
進口鏡頭：LAP-S2000采用了日本佳能作為主鏡頭，畸變小成像高，接收端采用了直徑150毫米大口徑長焦距鏡頭，顆粒探測更加精準。
超寬量程：LAP-S2000量程達到了1μm～2000μm。
輔光定位：LAP-S2000加入了輔光定位功能，定位時發(fā)射端兩束激光同時發(fā)出，接收端雙點吻合后接收端即可啟動光路自動調整系統(tǒng)，大大簡化了調整難度。
*的分析軟件：*的分析軟件可以隨時記錄所有激光束的內所有霧滴的粒度分布。在激光束內移動噴霧測試結果可以被連續(xù)記錄和統(tǒng)計分析。
主要技術參數：
| 規(guī)格型號 | LAP-S2000 | |
| 執(zhí)行標準 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
| 測試范圍 | 1μm-2000μm | |
| 探測器通道數 | 86 | |
| 準確性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |
| 重復性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |
| 進樣方式 | 開放式 | |
| 光路對中方式 | 自動對中，儀器自動調整光路，電腦軟件一鍵自動完成 | |
| 操作模式 | 軟件操作、自動測試 | |
| 儀器結構 | 分體式或導軌式可選 | |
| 分體式導軌（選配） | 分體式儀器，測試區(qū)域在6米以內可以選配導軌，光路更加穩(wěn)定 | |
| 激光器參數 | LD泵浦激光器 λ= 532nm, 功率1-40mw可調 | |
| 關鍵參數 | 測量區(qū) | 分體式：儀器0.1到10米范圍可正常測試 |
| 導軌式：儀器0.1到6米范圍可正常測試 | ||
| 鏡頭 | 進口佳能高性能鏡頭 | |
| 鏡頭保護 | 氣幕氣流式雙重保護 | |
| 進樣方式 | 噴射（包含霧滴和固體粉末） | |
| 操作模式 | 電腦操作 | |
| 尺寸 | 發(fā)射端尺寸：950*320*670 接收端尺寸：250*360*520 | |
| 測試速度 | <1min/次 | |
| 重量 | 25Kg | |
| 軟件功能 | |
| 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對數正態(tài)分布、按目分級統(tǒng)計模式等，滿足不同行業(yè)對被測樣品粒度統(tǒng)計方式的不同要求 |
| 統(tǒng)計方式 | 體積分布和數量分布，以滿足不同行業(yè)對于粒度分布的不同統(tǒng)計方式 |
| 統(tǒng)計比較 | 可針對多條測試結果進行統(tǒng)計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業(yè)原料質量控制具有很強的實際意義 |
| 自行DIY | 用戶自定義要顯示的數據，根據粒徑求百分比、根據百分比求粒徑或根據 |
| 顯示模板 | 粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對粒度測試的表征方式。徑距、一致性、區(qū)間累積等等 |
| 測試報告 | 測試報告可導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結果 |
| 多語言支持 | 中英文語言界面支持，還可根據用戶要求嵌入其他語言界面。 |
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