符合標(biāo)準(zhǔn)：

　　美國(guó)無紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)，美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046)，美標(biāo)MIL-B-81705C，美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，中國(guó)GB19082，中標(biāo)GJB2625

　　適用范圍：

　　潔凈服靜電衰減測(cè)試儀/防護(hù)服抗靜電檢測(cè)儀可用于實(shí)驗(yàn)室以分析材料自身的靜電特性、評(píng)估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料。同時(shí)該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來進(jìn)行靜電特性檢測(cè)和監(jiān)測(cè)。

　　產(chǎn)品詳細(xì)：

　　406D靜電衰減測(cè)試儀采用直流充電法，是符合美標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測(cè)試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測(cè)材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國(guó)無紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)、美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046)、美標(biāo)MIL-B-81705C、中國(guó)GB19082，中標(biāo)GJB2625。

　　406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試;金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測(cè)試IC芯片包裝管;選配806B無損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上，還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間。

　　配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷。

　　STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常。

　　位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣。