符合標(biāo)準(zhǔn)：

　　美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)，美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046)，美標(biāo)MIL-B-81705C，美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，中國GB19082，中標(biāo)GJB2625

　　適用范圍：

　　潔凈服靜電衰減測試儀/醫(yī)用服抗靜電試驗(yàn)儀可用于實(shí)驗(yàn)室以分析材料自身的靜電特性、評估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料。同時該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來進(jìn)行靜電特性檢測和監(jiān)測。

　　產(chǎn)品詳細(xì)：

　　406D靜電衰減測試儀采用直流充電法，是符合美標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D規(guī)范用于檢測材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)、美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method4046)、美標(biāo)MIL-B-81705C、中國GB19082，中標(biāo)GJB2625。

　　406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試;金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管;選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上，還可以測試粉體和液體靜電衰減時間。

　　配套法拉第測試籠提供一個屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測試，法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時，高壓電源輸出被切斷。

　　STM-2驗(yàn)證模塊提供一個標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常。

　　位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測試粉體、液體和固體試樣。

　　產(chǎn)品特性：

　　充電電壓：0～5.5kV;

　　誤差期設(shè)置：50%、10%、1%(0);

　　電壓表量程：0-5kV;

　　計(jì)時器量程：1-99.99s;

　　計(jì)時分辨率：0.01s;

　　顯示：指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計(jì)時器(中)，彩色LED燈指示各個操作進(jìn)程;

　　測試模式：手動、自動(只能測試從5kV開始的衰減);

　　自動測試次數(shù)：1-9次;

　　測試時間間隔：1-25秒;

　　輸入電源：86-264VAC，50/60Hz。