Xradia 410 Versa X射線顯微鏡可提供經(jīng)濟(jì)高效，靈活的3D成像，使您能夠處理各種樣品和研究環(huán)境。隨著時(shí)間的推移，非破壞性X射線成像可以保留并擴(kuò)展您寶貴樣品的使用范圍。該儀器實(shí)現(xiàn)了0.9μm的真實(shí)空間分辨率，小可實(shí)現(xiàn)的體素尺寸為100 nm。的吸收和相位對比(適用于軟質(zhì)或低Z材料)為您提供更多功能，以克服傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)方法的局限性。

　　Xradia Versa解決方案將科學(xué)研究擴(kuò)展到超出基于投影的微米和納米CT系統(tǒng)的極限。傳統(tǒng)斷層掃描依賴于單級放大倍率，Xradia 410 Versa采用基于同步加速器 - 口徑光學(xué)系統(tǒng)的*兩階段過程。它易于使用，具有靈活的對比度。遠(yuǎn)距離突破分辨率(RaaD)使您能夠在原生環(huán)境和各種現(xiàn)場鉆機(jī)中保持廣泛的樣品尺寸的亞微米分辨率。非破壞性多長度尺度功能允許您在各種放大倍率下對同一樣品進(jìn)行成像，從而可以*地表征連續(xù)處理(4D)之間或受到模擬環(huán)境條件影響時(shí)材料微觀結(jié)構(gòu)特性的演變(原地)。

　　此外，Scout-and-Scan控制系統(tǒng)可通過基于配方的設(shè)置實(shí)現(xiàn)高效的工作流程環(huán)境，使Xradia 410 Versa易于為具有各種經(jīng)驗(yàn)水平的用戶提供便利。

　　優(yōu)勢

　　Xradia Versa架構(gòu)采用兩級放大技術(shù)，使您能夠在遠(yuǎn)處(RaaD)*地實(shí)現(xiàn)分辨率。與傳統(tǒng)的微型CT一樣，通過幾何放大放大樣本圖像。在第二階段，閃爍體將X射線轉(zhuǎn)換成可見光，然后光學(xué)放大。減少對幾何放大率的依賴使Xradia Versa儀器能夠在較大的工作距離內(nèi)保持亞微米分辨率。這使您能夠有效地研究泛的樣本量，包括在原位室內(nèi)。

• 　　非破壞性3D成像，以保留和擴(kuò)展有價(jià)值的樣品的使用
• 　　高空間分辨率低至<0.9μm，體素大小低至100 nm
• 　　針對低Z材料和軟組織的對比解決方案
• 　　行業(yè)的4D和原位功能，適用于靈活的樣本量和類型
• 　　Scout-and-Scan™控制系統(tǒng)，易于使用的工作流程設(shè)置，是多用戶環(huán)境的理想選擇
• 　　重載樣品臺和擴(kuò)展源和探測器臺行程
• 　　少需要樣品制備
• 　　通過多個(gè)放大檢測系統(tǒng)輕松導(dǎo)航
• 　　通過自動多點(diǎn)斷層掃描和重復(fù)掃描連續(xù)操作
• 　　高速重建