華測功能材料電學(xué)綜合測試平臺 

一、測試功能： 

1、鐵電參數(shù)測試功能

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率；

Static Hysterestic靜態(tài)電滯回線測試；

Static Hysterestic 脈沖測試；

PUND 疲勞測試；

Fatigue 保持力；

Retention 印跡；

Imprint 漏電流測試；

Leakage current 變溫測試功能。

2、壓電參數(shù)測試功能

可進行壓電陶瓷的準靜態(tài)等參數(shù)測試也d33，可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀） 動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。

3、熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。

薄膜材料變溫范圍：-196 ℃到+600℃，塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、600℃、800℃。

4、介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的 阻抗電抗導(dǎo)納電導(dǎo)電納電感Z、X、Y、G、B、L、 介電損耗品質(zhì)因數(shù)等物理量，同時還可以分D、Q 析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。 也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。

5、熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

用于研究功能材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過技術(shù)TSDC也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。

6、絕緣電阻測試功能

高精準度的電壓輸出與電流測量，保障測 試的品質(zhì)，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的 數(shù)據(jù)的檢測。例如：陶瓷材料、硅橡膠測試、 PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科 研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。

7、高溫四探針測試功能

符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新 材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測 數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針 雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方 法國家標準并參考美國 標準。也可應(yīng)A.S.T.M 用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

8、塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料 的多種熱電性能分析;可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量 選件,低溫選件溫度范圍-到高阻選件100℃ 200℃ , 高至10MΩ。

9、電卡效應(yīng)測試功能

可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性 能。溫度范圍: -到熱流時間范圍: 50℃ 200℃、1s 1000s，10kV，電壓 可達波形：用戶自定、 脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形。

二、設(shè)備優(yōu)勢：

1、擴展優(yōu)勢

本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試。與國際電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容性做了大量的接口。無論在軟件與硬件方面，使本套儀器在未來更易于擴展。更加節(jié)省改造時間與硬件成本。

2、性能優(yōu)勢

華測儀器依托多年高壓控制、測試方面多年的技術(shù)成果，安全保護：增加保護過壓、過流、過溫等TVS技術(shù)，更加安全與可靠。軟件設(shè)計：借鑒國際品牌， 在測試功能、數(shù)據(jù)處理、操作等更加人性化等方面做了大量的改進；測量精度：與國際儀器做了大量的測試對標，與國內(nèi)航天通力合作；進行檢測計量。保證數(shù)據(jù)的有效與真實。

3、研發(fā)優(yōu)勢

研發(fā)團隊擁有多領(lǐng)域、多學(xué)科的博士、碩士專業(yè)技術(shù)人員，他們致力于材料電學(xué)、電力電子、信號、測控、精密加工方面的研究，并且是掌握材料電學(xué)檢測技術(shù)科研團隊！自成立以來獲多方科研機構(gòu)、大學(xué)試驗室支持。

4、定制化服務(wù)

電學(xué)試驗室擁有泰克、是德科技等國際品牌大批檢測設(shè)備；生產(chǎn)制造方面，公司有4軸、5軸CNC加工中心、超精磨床等一大批生產(chǎn)、加工設(shè)備，國際質(zhì)量ISO9001 體系認證，在工裝、夾具定制化方面更加方便、高效。