Agilent(安捷倫) 4349B高阻表
東莞市誠(chéng)峻信電子儀器有限公司 總公司
Agilent(安捷倫) 4349B高阻表
可同時(shí)對(duì)4通道多個(gè)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量,增加測(cè)試吞吐率。測(cè)量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω,基本精度為2%,具有接觸檢查功能。
主要特性
測(cè)量參數(shù):R(直流電阻)、I(直流電流)、ps(表面電阻率),pv(體電阻率)。
測(cè)量范圍:電阻1*103Ω 至 1x1015Ω;電流1pA至100uA。
測(cè)量速度:快9.5ms的測(cè)量時(shí)間。
基本測(cè)量精度:2%。
4個(gè)通道,可用于多個(gè)被測(cè)件,4個(gè)通道可同時(shí)測(cè)試。
接觸檢查功能:可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障,2毫秒/點(diǎn),保證可靠的測(cè)試
可同時(shí)對(duì)4通道多個(gè)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量,增加測(cè)試吞吐率。測(cè)量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω,基本精度為2%,具有接觸檢查功能。
主要特性
測(cè)量參數(shù):R(直流電阻)、I(直流電流)、ps(表面電阻率),pv(體電阻率)。
測(cè)量范圍:電阻1*103Ω 至 1x1015Ω;電流1pA至100uA。
測(cè)量速度:快9.5ms的測(cè)量時(shí)間。
基本測(cè)量精度:2%。
4個(gè)通道,可用于多個(gè)被測(cè)件,4個(gè)通道可同時(shí)測(cè)試。
接觸檢查功能:可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障,2毫秒/點(diǎn),保證可靠的測(cè)試


















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