武漢恒溫恒濕試驗(yàn)箱廠家現(xiàn)貨結(jié)構(gòu)組成：

箱體：（外殼材料+保溫材料層+內(nèi)壁材料+大門+觀察窗+照明燈+測(cè)試引線孔+冷凝出水孔+溢流孔+排水孔+樣品架+移動(dòng)腳輪）

空氣調(diào)節(jié)系統(tǒng)：（空氣調(diào)節(jié)方式+加濕方式+加熱方式+空氣循環(huán)裝置+空氣冷卻方式+除濕方式）

加溫/供水系統(tǒng)：（加濕系統(tǒng)+補(bǔ)水方式+加濕供水方式+水位控制方式+保護(hù)措施）

制冷系統(tǒng)：（制冷壓縮機(jī)+制冷系統(tǒng)組成+工作介質(zhì)）

溫度控制系統(tǒng)：（溫度測(cè)量元件+加熱系統(tǒng)組成+控制元件）

安全保護(hù)裝置：（工作室+制冷系統(tǒng)+電源系統(tǒng)+加濕系統(tǒng)+加熱系統(tǒng)+其他）

武漢恒溫恒濕試驗(yàn)箱廠家現(xiàn)貨的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T2423.1-2008 （電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法）

2、GB/T2423.2-2008 （電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法）

3、GB/T2423.3-2006 （電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法）

4、GB/T2423.4-2008 （電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法）

5、GB/T 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

6、GB/T 10586-2006 《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

7、GB/T 5170.5-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備》

8、GB/T 5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》

恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一種可同時(shí)精確控制溫度和濕度的環(huán)境模擬測(cè)試設(shè)備，能夠在密閉空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高溫、低溫、恒溫、濕熱、高低溫循環(huán)、濕熱循環(huán)等多種工況，用于檢測(cè)產(chǎn)品在不同溫濕度環(huán)境下的性能穩(wěn)定性、可靠性及耐候性。