型號：

IDP-7300

測試對像：

粉末、固體、液體

元素分析范圍：

鈉（Na）－鈾（U）

同時多可測元素：

36種

含量分析范圍：

1ppm～99.99%

工作穩(wěn)定性：

總熒光強(qiáng)度為0.1％

測試時間：

60～200秒

探測器分辨率：

127eV±5

多道分析器：

4096道

進(jìn)口DSP數(shù)字信號處理芯片

64位處理

X射線光管：

功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo

高壓電源：

電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時小于0.05%

低檢出限：

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

探測系統(tǒng)：

全自動對點探測系統(tǒng)鼠標(biāo)點擊,自動對點

升降軟件系統(tǒng)：

電控全自動機(jī)蓋升降軟件獨立控制

外型尺寸：

720mm×560mm×450mm(不包括支腳)

測量倉：

400mm×280mm×100mm

重量：

60Kg

鍍層技術(shù)參數(shù)：

可測鍍層數(shù)：

多可達(dá)5層

鍍層種類：

單金屬鍍層、合金鍍層

鍍層識別精度：

分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測試0.005μm。

厚度測試范圍：

輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um

中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um

重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

配置

數(shù)量

單位

儀器主機(jī)部分主要配置

1

套

1. SDD硅漂移探測器(進(jìn)口) AMPTEK

1

套

2.低功率X光管

1

個

3. 高壓電源

1

個

4. 2048道數(shù)字多道分析器

1

套

5. 高精密CCD

1

個

6. 濾光片組

5

組

7. 準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動切換

6

個