本設(shè)備主要為工業(yè)材料、電子零部件、電器成品或者半成品在研發(fā)、生產(chǎn)和檢驗各環(huán)節(jié)的試驗提供恒定濕熱、復(fù)雜高低溫交變等試驗環(huán)境和試驗條件的機(jī)器.適用于電工、電子、光電、電器、化工、通訊、五金、橡膠、玩具等各種工業(yè)行業(yè)。
控制儀恒溫恒濕實驗箱技術(shù)參數(shù)：
1.溫度范圍： 0~+150℃/-20~+150℃/-40~+150℃/-60~+150℃/-70~+150（其它溫度范圍可以定制）。 
2.濕度范圍：20％~98％RH（更低濕度范圍時請說明，謝謝）
3.溫濕度控制穩(wěn)定度：±0.5℃/±1％RH
4.溫度分布均勻度：±2℃;濕度均勻度：±3.0％RH
5.正常升溫時間：+20℃~+150℃小于35分鐘非線性空載。
6.正常降溫時間：+20~0℃小于30分鐘/+20~-20℃小于40分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/ +20~-60℃小于90分鐘/+20~-70℃小于100分鐘/非線性空載.
東莞市愛佩試驗設(shè)備有限公司是專業(yè)生產(chǎn)控制儀恒溫恒濕實驗箱的直銷廠家，本公司生產(chǎn)的恒溫恒濕設(shè)備適合任何實驗室使用。愛佩品牌恒溫恒濕設(shè)備滿足GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備；GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法；GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán))；GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。