恒溫沖擊環(huán)境試驗(yàn)箱廠家/耐冷熱沖擊檢測(cè)箱是可以根據(jù)試驗(yàn)品需要模擬戶外環(huán)境的不同溫度調(diào)冷溫?zé)釡貋碜鲈囼?yàn)的設(shè)備，冷熱試驗(yàn)箱還有一個(gè)專業(yè)名稱叫”冷熱沖擊試驗(yàn)箱”，是一種可以瞬間從高溫極速轉(zhuǎn)到低溫的試驗(yàn)設(shè)備，用于試驗(yàn)材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)被轉(zhuǎn)換的環(huán)境下所能忍受的程度，得以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。結(jié)構(gòu)有分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。本設(shè)備還可以用于高、低溫的可靠性環(huán)境模擬試驗(yàn)。對(duì)電子電工、航空航天、汽車摩托、光電、LED、橡膠、照明、塑膠、金屬、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫及冷熱循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
恒溫沖擊環(huán)境試驗(yàn)箱廠家/耐冷熱沖擊檢測(cè)箱廣泛用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、汽車配件、通訊組件、化學(xué)材料、金屬、塑料行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料經(jīng)對(duì)冷、熱溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
技術(shù)參數(shù)：
1.型號(hào)：3AP-CJ-50C；3AP-CJ-80C；3AP-CJ-100C；3AP-CJ-150C；3AP-CJ-250C；
2.內(nèi)箱尺寸：35×35×40cm；50×40×40cm；60×40×60cm；60×50×50cm；70×60×60cm；
3.測(cè)試設(shè)備可選擇的沖擊溫度有：A： -40℃～150℃； B：-55℃～150℃；C：-65℃～150℃
4.高溫儲(chǔ)存槽溫度范圍：RT~180℃或RT~200℃
5.低溫儲(chǔ)存槽溫度范圍：RT～-55℃；RT～-65℃；RT～-75℃（根據(jù)測(cè)試溫度而定）
6.高溫儲(chǔ)存槽升溫時(shí)間：RT-200℃約需30分鐘
7.降溫時(shí)間：RT～-75℃約需40分鐘（根據(jù)尺寸大小跟實(shí)際測(cè)試溫度有影響）
8.冷熱沖擊測(cè)試可設(shè)定時(shí)間:0.1～999.9小時(shí),循環(huán)周期1～9999可設(shè)定.
9.沖擊恢復(fù)時(shí)間：高溫(80℃)沖擊30分鐘,低溫(-40℃)沖擊30分鐘;沖擊恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以內(nèi).
10.結(jié)構(gòu)材質(zhì)：整臺(tái)測(cè)試設(shè)備為進(jìn)口SUS優(yōu)質(zhì)304不銹鋼板霧面處理（個(gè)別客戶有選擇鋼板烤漆加色處理），內(nèi)箱均為進(jìn)口SUS#304不銹鋼,配件：測(cè)試孔(φ50×1只)，試料架(2組)。
11.冷凍系統(tǒng)：復(fù)疊水冷式歐美*法國(guó)泰康全封閉或德國(guó)比澤爾半密閉式壓縮機(jī)組.此兩*壓縮機(jī)始終以質(zhì)量高，耗電低，使用壽命長(zhǎng)，運(yùn)行穩(wěn)定而立不敗之地。