對(duì)于獨(dú)立的BMS IC,A20B-0008-0470理解其功能塊和功率FET在工作區(qū)域的執(zhí)行活動(dòng)很重要。有些IC允許在充電FET(CFET)和放電FET(DFET)同時(shí)都處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)充電。其他IC則關(guān)斷CFET。當(dāng)在電芯溫度曲線僅允許放電區(qū)工作時(shí),CFET在串聯(lián)功率FET配置中絕不能關(guān)斷。在CFET關(guān)斷時(shí),運(yùn)行負(fù)載允許電流穿過CFET的體二極管,這會(huì)增加FET的功率耗散,導(dǎo)致FET溫度上升。如果不采取措施消除由FET產(chǎn)生的熱量,比如通過電路布局或使用散熱器,則元件可能受損。在串聯(lián)配置下工作時(shí),CFET關(guān)斷還可減小會(huì)影響應(yīng)用性能的負(fù)載功耗。
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大多數(shù)中小型電池組都使用兩個(gè)熱敏電阻器來監(jiān)測(cè)溫度。其中一個(gè)熱敏電阻器位于電池組的中心,由于與電芯的隔離,這里的溫度較高。因?yàn)楣ぷ鳒囟容^高,這些電芯的老化速度更快。第二個(gè)熱敏電阻器位于電池組之外,主要用于測(cè)量環(huán)境溫度。恰當(dāng)?shù)臏囟葯z測(cè)可防止電池發(fā)生熱逸潰,并確保其充電或放電安全。
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