對于獨立的BMS IC，理解其功能塊和功率FET在工作區(qū)域的執(zhí)行活動很重要。有些IC允許在充電FET(CFET)和放電FET(DFET)同時都處于導(dǎo)通狀態(tài)時充電。其他IC則關(guān)斷CFET。當(dāng)在電芯溫度曲線僅允許放電區(qū)工作時，CFET在串聯(lián)功率FET配置中絕不能關(guān)斷。在CFET關(guān)斷時，運行負載允許電流穿過CFET的體二極管，這會增加FET的功率耗散，導(dǎo)致FET溫度上升。如果不采取措施消除由FET產(chǎn)生的熱量，比如通過電路布局或使用散熱器，則元件可能受損。在串聯(lián)配置下工作時，CFET關(guān)斷還可減小會影響應(yīng)用性能的負載功耗。

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    除了熱逸潰檢測以外，A20B-0008-0461實踐中還使用熱檢測來確定電池充電或放電是否安全。如圖6所示，大多數(shù)鋰電池都提供建議的充電/放電溫度范圍。在筆記本電腦等應(yīng)用中，可能需要在圖6中的僅允許放電溫度區(qū)內(nèi)充電。JEITA是一種鋰電池充電標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)提倡在電芯不大穩(wěn)定或不大能夠接受電荷的溫度區(qū)減小充電電流，圖7是JEITA充電標(biāo)準(zhǔn)的一個例子。對于大多數(shù)應(yīng)用，圖6的曲線已足以滿足要求，并且易于實現(xiàn)。

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