開路電芯事件是指電芯內(nèi)部開路或者外部連接損壞。A20B-0008-0410事件的發(fā)生可能是緩慢的,也有可能是突然的。造成開路電芯事件的可能原因有老化、電芯制造質(zhì)量差和長時間在惡劣環(huán)境中工作。外部連接損壞一般是由于電池組結(jié)構(gòu)差而導(dǎo)致。
電池組在連接至負(fù)載時會產(chǎn)生大量涌入電流,這時可能出現(xiàn)zui大電芯壓差的誤報。因?yàn)殡娦咀杩故涠对龅挠咳腚娏鲿?dǎo)致電芯電壓的嚴(yán)重失配。有些芯片在報告事件時有延遲,有些芯片則沒有。
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設(shè)置總DSC關(guān)斷時間延遲時要考慮許多因素。DSC關(guān)斷時間由損壞電池和電路的時間,與負(fù)載啟動或連接時允許涌入電流通過的時間相較而定。DSC關(guān)斷時間與FET的關(guān)斷時間必須平衡。FET關(guān)斷速度過快會導(dǎo)致電芯測量引腳上產(chǎn)生較大電壓瞬變,zui接近功率FET的引腳zui容易受大電壓瞬變的影響,這些瞬態(tài)事件是功率FET與電池之間的跡線中儲存的電感能量,在電池組突然斷開與負(fù)載的連接時無處發(fā)散的結(jié)果。
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