溫度檢測

    檢測電芯溫度的主要原因是確保電池不會達(dá)到熱逸潰。YTE102A YT213001-BA可能造成熱逸潰的情況有電芯過充、對電池組短路或電芯本身內(nèi)部短路。有些化學(xué)電池相對容易受熱逸潰的影響。

    除了熱逸潰檢測以外，實(shí)踐中還使用熱檢測來確定電池充電或放電是否安全。如圖6所示，大多數(shù)鋰電池都提供建議的充電/放電溫度范圍。在筆記本電腦等應(yīng)用中，可能需要在圖6中的僅允許放電溫度區(qū)內(nèi)充電。JEITA是一種鋰電池充電標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)提倡在電芯不大穩(wěn)定或不大能夠接受電荷的溫度區(qū)減小充電電流。圖7是JEITA充電標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)例子。對于大多數(shù)應(yīng)用，圖6的曲線已足以滿足要求，并且易于實(shí)現(xiàn)。

YTE102A YT213001-BA
YTE102B YT213001-BB
YTE102C YT213001-BC
YTEA250-15 YT212001-AF
YTEA250-8 YT212001-AE
DSQC358C 3HAB8101-10
DSQC358E 3HAB8101-12
DSQC358G 3HAB8101-16
DSQC358F 3HAB8101-15

    對于獨(dú)立的BMS IC，理解其功能塊和功率FET在工作區(qū)域的執(zhí)行活動很重要。有些IC允許在充電FET（CFET）和放電FET（DFET）同時(shí)都處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)充電。其他IC則關(guān)斷CFET。當(dāng)在電芯溫度曲線僅允許放電區(qū)工作時(shí)，CFET在串聯(lián)功率FET配置中絕不能關(guān)斷。在CFET關(guān)斷時(shí)運(yùn)行負(fù)載允許電流穿過CFET的體二極管。這會增加FET的功率耗散，導(dǎo)致FET溫度上升。如果不采取措施消除由FET產(chǎn)生的熱量，比如通過電路布局或使用散熱器，則元件可能受損。在串聯(lián)配置下工作時(shí)CFET關(guān)斷還可減小會影響應(yīng)用性能的負(fù)載功耗。

DSQC236A YB560103-CA

DSQC236C YB560103-CC

DSQC236D 3HAB2207-1

DSQC236G YB560103-CD

DSQC236H 3HAB2245-1

DSQC236P 3HAA3563-AJA

DSQC236T YB560103-CE

DSQC266B 3HAB8797-1

DSQC266C 3HAB8798-1

DSQC266G 3HAB8801-1

DSQC266H 3HAB8800-1

DSQC266K 3HAB8799-1

DSQC266T 3HAB8802-1

DSQC346A 3HAB8101-5

DSQC346B 3HAB8101-6

DSQC346C 3HAB8101-7

DSQC346E 3HAB8101-11

DSQC346G 3HAB8101-8

DSQC346U 3HAB8101-13

DSQC546A 3HAB8101-18

YTE102B YT213001-BB

YTE102C YT213001-BC

YTEA250-15 YT212001-AF

YTEA250-8 YT212001-AE

DSQC358C 3HAB8101-10

DSQC358E 3HAB8101-12

DSQC358G 3HAB8101-16

DSQC358F 3HAB8101-15